J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置ECM-500系列

絕緣抵抗測定器

型號：

ECM-500/40-n

ECM-500/100-n

離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（BIAS VOLTAGE）,經(jīng)過長時(shí)間的測試（1～1000 小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生（ION MIGRATION）,并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。（ION MIGRATION TESTING） 適用規(guī)格：JPCA-ET01-2001

可在1v ~ 500v的寬外加電壓和CH個別電壓輸出下進(jìn)行各種樣品的測試

通過配備信道單獨(dú)計(jì)測電路進(jìn)行50msec/CH的高速掃描處理

用響應(yīng)速度低于100nsec的瞬時(shí)泄漏電流檢測電路，捕捉到泄漏觸摸現(xiàn)象

多達(dá)100ch的殼體小型輕量，不選擇場所設(shè)置，移動也容易

利用倉門打開的接點(diǎn)進(jìn)行緊急停止或暫時(shí)停止的安全功能

采用不同CH的彩色電纜，減少焊接作業(yè)的負(fù)擔(dān)，防止出錯。

簡單易用的軟件

J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置

用途

印刷電路板、焊錫、樹脂、絕緣材料等的遷移評價(jià)。

多達(dá)500v的外加電壓可滿足汽車電子相關(guān)廠商的測試要求。